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如图电源端(高压侧)的两个N沟道功率MOSFET的充电和放电是一种常见的PCM方案,其漏极背靠背连接。 Q1是用于电池放电的功率MOSFET,Q2是用于电池充电的功率MOSFET。 两个N沟道功率MOSFET放置在正端,因此需要两个充电泵来启用浮动驱动。
www.kiaic.com/article/detail/5408.html 2024-12-26
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施加正向电压:当晶闸管的阳极和阴极之间施加正向电压时,晶闸管并不会立即导通。触发信号注入:此时,需要在门极和阴极之间注入一个正向触发脉冲信号。晶闸管导通:触发信号使得晶闸管内部形成导通通道,主电路电流得以流通。
www.kiaic.com/article/detail/5407.html 2024-12-26
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KNF6140S场效应管漏源击穿电压400V,漏极电流11A,极低导通电阻RDS(on)=0.53Ω,低栅极电荷15.7nC,可最大限度地减少导电损失;具有高坚固性、快速切换、100%雪崩测试、改进的dv/dt能力,高效稳定可靠,提供卓越的开关性能;专为高压、高速功率开关应用而设计,...
www.kiaic.com/article/detail/5406.html 2024-12-25
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它在B处提供一系列窄脉冲,当电容充电到UT的峰值电压(V_)时,UJT开启。这会在发射极–基极1结上放置一个低电阻,并且发射极电流流过脉冲变压器的初级,将栅极信号施加到可控硅SCR,可以通过增加C的值来增加输出信号的脉冲宽度。
www.kiaic.com/article/detail/5405.html 2024-12-25
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分立器件结构:在硅片上通过掺杂、扩散等工艺形成,通常只有一个或少数几个PN结。功能:具有单独功能的电子器件,如二极管、晶体管等。
www.kiaic.com/article/detail/5404.html 2024-12-25
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KND6610A场效应管漏源击穿电压100V,漏极电流15A,?采用先进的平面沟槽技术,极低导通电阻RDS(on)=83mΩ,可最大限度地减少导电损失,提供卓越的开关性能,并能够承受雪崩和换向模式的高能脉冲,稳定可靠;还具有低crss、快速切换、100%雪崩测试、改进的dv/dt...
www.kiaic.com/article/detail/5403.html 2024-12-24
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在设计驱动变压器时,其关键电气参数中的两个参数(漏电感值和绕组电容量)是需要控制的。因为大的漏电感值和绕组电容量可能引起诸如相位漂移、时间误差、噪声和上冲等不合乎使用要求的输出信号。
www.kiaic.com/article/detail/5402.html 2024-12-24
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在运放电路中,当两个输入端的电压几乎相等时,认为两个输入端之间存在虚短。这意味着运放的差模增益无限大,输入阻抗无穷大。
www.kiaic.com/article/detail/5401.html 2024-12-24
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KPY3203D场效应管漏源击穿电压-30V,漏极电流-100A,采用先进的高细胞密度沟槽技术,极低的导通电阻RDS(on)=3.5mΩ,超低栅极电荷,最大限度地减少导电损耗,最小化开关损耗;100%EAS保证、CdV/dt效应显著下降,高效稳定,绿色设备可用,符合环保要求,专用于电...
www.kiaic.com/article/detail/5400.html 2024-12-23
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电容在电路中可以储存电能,当电路断开时,电容可以释放储存的电能,为电路提供短暂的能量供应。电容可以对交流信号进行滤波,去除信号中的杂波,提高电路的信噪比。
www.kiaic.com/article/detail/5398.html 2024-12-23
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有两个或多个输入端,一个输出端。所有输入端为正(高电平),输出端为负(低电平)。所有输入端为负(低电平),输出端为正(高电平)。当有一个输入端为负(低电平),输出端为正(高电平)。刚好和与门相反。
www.kiaic.com/article/detail/5397.html 2024-12-23
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KIA5N50HD?场效应管漏源击穿电压500V,漏极电流5A,低导通电阻RDS(on)=1.0Ω,低栅极电荷,最大限度地减少导电损耗,最小化开关损耗以及在峰值电流或脉冲宽度方面表现出卓越的性能,高效稳定,符合RoHS环保要求,专用于HD安定器、适配器、充电器和SMPS备用电源...
www.kiaic.com/article/detail/5396.html 2024-12-20
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下图所示为10MHz低通滤波器,此低通滤波器利用带宽高达100MHz的高速电流反馈集成运放0PA603组成二阶巴特沃思低通滤波器滩图中R1=R2=159Ω ,C1=C2=100pF,其截止频率为fc=1/2πR1C1=10MHz,其零频增益为G0=1+Rf/R=1.6。
www.kiaic.com/article/detail/5395.html 2024-12-20
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在CMOS晶片中,由于寄生的NPN和PNP三极管相互导通,使得在电源VDD和地VSS之间产生低阻抗通路,从而引发大电流通过,对芯片造成永久性损坏的风险。这种效应通常是由特定的电压或电流条件触发,如静电放电(ESD)、瞬态电源干扰等。
www.kiaic.com/article/detail/5394.html 2024-12-20